菲希爾X射線測厚儀Fischer代理

菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230設(shè)計理念：

1，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺，馬達(dá)驅(qū)動的 Z 軸系統(tǒng)。

2，高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以精-確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。

3，測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。

4，帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的精-確調(diào)整。

5，所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的 WinFTM軟件在電腦上完成。

6，XDL 型鍍層測厚及材料分析儀作為受*保護的儀器，型式許可*符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)的規(guī)定。

菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測厚儀/光譜測厚儀/射線鍍層檢測儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL 230基本應(yīng)用：

1，鍍層厚度測量

大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量

電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層

復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層

鉻鍍層，如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量

2，材料分析

電鍍槽液分析

電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析

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