泰勒霍普森粗糙度儀代理

泰勒霍普森Surtronic S-100系列新型粗糙度儀的粗糙度測量分析參數(shù)：

執(zhí)行標準：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007等

ISO標準可以測量12個參數(shù)： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME標準可以測量11個參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

JIS標準可以測量14個參數(shù)：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

其他 ：R3z (Daimler Benz)

測試單位：um/uin

更多測量參數(shù)可選配我們的TalyProfile粗糙度分析軟件。

全新泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S-100系列：

由泰勒霍普森設計并制造的便攜式粗糙度測量儀，堅固耐用、用途廣泛并且具有外部連通性，能夠廣泛支持各種表面測量應用。 為了便于使用，這款全新的Surtronic S-100系列儀器擁有彩色觸摸寬屏操作設計和高度直觀的專有軟件。適用于車間和檢測間的使用。