MINITEST740測厚儀epk

簡要描述：

MINITEST740測厚儀epk，SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發的，涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的奠定了新標準。

更新時間：2024-03-17

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廠商性質：經銷商

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產品介紹：

品牌	ElektroPhysik/德國EPK	價格區間	面議
產地類別	進口	應用領域	環保,制藥/生物制藥,綜合

MINITEST740測厚儀epk

EPK測厚儀無錫駿展儀器供應MiniTest 740涂層測厚儀的SIDSP工作原理？

EPK測厚儀無錫駿展儀器供應跟傳統技術不同，SIDSP在探頭頂部產生和控制激發信號，回傳的信號經過32位數字轉換和處理，帶給您涂層厚度值。此項數字處理技術，同時應用在現代通訊技術（手機網絡）方面，如數字濾波器，基帶轉換，平均值，隨機分析，等等。此項技術能獲得與模擬信號處理信號質量。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置。

SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優勢，為涂層測厚設定了一個新的標準。

EPK測厚儀無錫駿展儀器供應MiniTest 740涂層測厚儀為什么選擇SIDSP？

EPK測厚儀無錫駿展儀器供應SIDSP探頭具有抗干擾性

EPK測厚儀無錫駿展儀器供應任何與測量相關的信號，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾，因為不再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有抗干擾能力。